控制测量和测量学在本质上有一些区别。总体来说，控制测量在精度和范围方面要求更高，而测量学则是一门更广泛的学科。

具体来说，控制测量是一种精密测量技术，其目的是建立一种控制网，该网络能够精确地确定点在空间中的位置。这种测量技术要求更高的精度等级，因此需要研究更精密的测量仪器、方法和技术。例如，需要考虑地球曲率等多种因素对测量成果的影响。

而测量学则是一门更广泛的学科，它不仅包括控制测量，还包括普通测量学、地形图测绘和应用等。其中，普通测量学主要研究一般的测量方法和技术，如水准测量、角度测量等。地形图测绘和应用则涉及到如何将实地测量数据转化为平面图或三维模型。

总之，控制测量是测量学的一个子集，它专注于高精度的测量和控制网的建立。而测量学则涵盖了更广泛的内容，包括普通测量、地形图测绘和应用等。