TEM(透射电镜)的成像衬度源于样品对电子束的散射，包括振幅衬度和相位衬度。振幅衬度在TEM、STEM模式和明场、暗场像中都可见，其中质-厚衬度和衍射衬度是关键部分。本期将重点讨论STEM图像的衬度特性。

在理想条件下，STEM像的分辨率和衬度与传统透射电镜(CTEM)相同，能重现质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。然而，STEM的入射束孔径角和探测器接收角与CTEM有所不同，导致像衬度存在差异。例如，CTEM中较小的孔径角可能导致在STEM像上消失的消光轮廓线。

STEM的衬度应用广泛，如厚试样和对电子辐照敏感样品适合使用质厚衬度像，而Z-衬度像(HAADF)能提供原子级分辨率。通常，研究人员会结合CTEM的高分辨像和STEM的粒子观察，以优化成像效果。ADF和HAADF像则能观察到常规像难以显示的特性，通过信号处理如探测器增益和亮度/衬度调整可进一步控制图像。

STEM的质量质厚衬度像与TEM类似，由电子的弹性散射形成，而衍射衬度像在细节清晰度上不如CTEM。Z-衬度像，即HAADF像，通过高角度散射电子形成，能清晰展现原子级的散射信息，尤其适合观察非晶材料和生物试样。

总的来说，STEM像的衬度是其独特成像能力的关键，通过不同模式和参数的选择，可以揭示样品的复杂特性，是材料科学和生物学研究中的重要工具。